Fungsi carian sedang dalam pembinaan.
Fungsi carian sedang dalam pembinaan.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

2D Device Simulation of AlGaN/GaN HFET Current Collapse Caused by Surface Negative Charge Injection Simulasi Peranti 2D bagi Keruntuhan Arus AlGaN/GaN HFET Disebabkan oleh Suntikan Caj Negatif Permukaan

Yusuke IKAWA, Yorihide YUASA, Cheng-Yu HU, Jin-Ping AO, Yasuo OHNO

  • pandangan teks lengkap

    0

  • Petikan Ini

Ringkasan:

Runtuhan longkang dalam AlGaN/GaN HFET dianalisis menggunakan simulator peranti dua dimensi. Tepu dua langkah diperoleh, dengan mengandaikan keadaan permukaan jenis perangkap lubang pada permukaan AlGaN dan kawasan suntikan cas negatif pendek di bahagian longkang pintu pagar. Disebabkan oleh potensi elektrik permukaan yang disematkan oleh perangkap permukaan, kawasan yang disuntik cas negatif membentuk potensi malar seperti di kawasan pintu logam dan ia bertindak sebagai FET dengan pintu maya. Profil kepekatan elektron mendedahkan bahawa ketepuan pertama berlaku dengan picit-off di rantau pintu maya dan ketepuan kedua berlaku dengan pinch-off di rantau pintu logam. Disebabkan oleh kesan saluran pendek FET get maya, arus tepu meningkat sehingga akhirnya mencapai arus tepu FET get logam intrinsik. Arus runtuh dengan degradasi arus pada voltan lutut dalam I-V ciri-ciri boleh dijelaskan dengan pembentukan gerbang maya.

Jawatankuasa
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E93-C No.8 pp.1218-1224
Tarikh penerbitan
2010/08/01
Diumumkan
ISSN dalam talian
1745-1353
DOI
10.1587/transele.E93.C.1218
Jenis Manuskrip
Special Section PAPER (Special Section on Heterostructure Microelectronics with TWHM 2009)
kategori
Peranti berasaskan GaN

Pengarang

Kata kunci

Contents [show]