Fungsi carian sedang dalam pembinaan.
Fungsi carian sedang dalam pembinaan.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

Novel DFT Strategies Using Full/Partial Scan Designs and Test Point Insertion to Reduce Test Application Time Strategi DFT Novel Menggunakan Reka Bentuk Imbasan Penuh/Separa dan Sisipan Titik Ujian untuk Mengurangkan Masa Permohonan Ujian

Toshinori HOSOKAWA, Masayoshi YOSHIMURA, Mitsuyasu OHTA

  • pandangan teks lengkap

    0

  • Petikan Ini

Ringkasan:

Oleh kerana LSI ialah struktur dua dimensi, bilangan pin luaran meningkat pada kadar yang lebih rendah daripada peningkatan yang sepadan dalam bilangan get pada LSI. Oleh itu, bilangan flip-flop pada laluan imbasan meningkat apabila ketumpatan get pada LSI meningkat, menyebabkan masa penggunaan ujian lebih lama. Dalam makalah ini, tiga strategi DFT novel yang bertujuan untuk mengurangkan masa permohonan ujian dicadangkan. Strategi DFT 1 ialah kaedah reka bentuk imbasan penuh dengan sisipan titik ujian, strategi DFT 2 ialah kaedah reka bentuk imbasan separa, dan strategi DFT 3 ialah kaedah reka bentuk imbasan separa dengan sisipan titik ujian. Keputusan eksperimen menunjukkan bahawa strategi DFT ini mengurangkan masa permohonan ujian sebanyak 45% hingga 82% berbanding kaedah reka bentuk imbasan penuh konvensional.

Jawatankuasa
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E84-A No.11 pp.2722-2730
Tarikh penerbitan
2001/11/01
Diumumkan
ISSN dalam talian
DOI
Jenis Manuskrip
Special Section PAPER (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
kategori
ujian

Pengarang

Kata kunci

Contents [show]