Fungsi carian sedang dalam pembinaan.
Fungsi carian sedang dalam pembinaan.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

Layout-Aware Fast Bridge/Open Test Generation by 2-Step Pattern Reordering Jambatan Pantas/Ujian Terbuka Sedar Reka Letak Penjanaan oleh Penyusunan Semula Corak 2 Langkah

Masayuki ARAI, Shingo INUYAMA, Kazuhiko IWASAKI

  • pandangan teks lengkap

    0

  • Petikan Ini

Ringkasan:

Apabila teknologi pembuatan peranti semikonduktor berkembang ke arah penyepaduan yang lebih tinggi dan saiz ciri yang dikurangkan, jurang antara tahap kecacatan yang dianggarkan pada peringkat reka bentuk dan yang dilaporkan untuk peranti fabrikasi telah menjadi lebih luas, menjadikannya lebih sukar untuk mengawal jumlah kos pembuatan termasuk kos ujian dan kos untuk kegagalan medan. Untuk menganggarkan liputan kerosakan dengan lebih tepat mempertimbangkan kebarangkalian berlakunya kerosakan, kami telah mencadangkan anggaran liputan kesalahan berwajaran berdasarkan kawasan kritikal yang sepadan dengan setiap kerosakan. Model kerosakan yang berbeza sebelum ini dikendalikan secara berasingan; oleh itu, kecekapan mampatan corak dan masa jalan tidak dioptimumkan. Dalam kajian ini, kami mencadangkan skim penjanaan corak ujian pantas yang mempertimbangkan jambatan berwajaran dan liputan kerosakan terbuka secara bersepadu. Skim yang dicadangkan menggunakan penjanaan corak ujian dua langkah, di mana corak ujian yang dijana pada langkah kedua yang menyasarkan hanya kerosakan jambatan disusun semula dengan tetingkap carian saiz tetap, mencapai O(n) kerumitan pengiraan. Keputusan eksperimen menunjukkan bahawa dengan 10% daripada saiz kesalahan sasaran awal dan saiz tetingkap kecil yang tetap, skim yang dicadangkan mencapai kira-kira 100 kali pengurangan masa jalan jika dibandingkan dengan penyusunan semula berasaskan tamak yang mudah, sebagai pertukaran kira-kira 5% pertambahan kiraan corak.

Jawatankuasa
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E101-A No.12 pp.2262-2270
Tarikh penerbitan
2018/12/01
Diumumkan
ISSN dalam talian
1745-1337
DOI
10.1587/transfun.E101.A.2262
Jenis Manuskrip
Special Section PAPER (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
kategori

Pengarang

Masayuki ARAI
  Nihon University
Shingo INUYAMA
  Tokyo Metropolitan University
Kazuhiko IWASAKI
  Tokyo Metropolitan University

Kata kunci

Contents [show]