Fungsi carian sedang dalam pembinaan.
Fungsi carian sedang dalam pembinaan.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

Scan Chain Ordering to Reduce Test Data for BIST-Aided Scan Test Using Compatible Scan Flip-Flops Pesanan Rantai Imbas untuk Mengurangkan Data Ujian untuk Ujian Imbasan Berbantukan BIST Menggunakan Flip-Flop Imbasan Serasi

Hiroyuki YOTSUYANAGI, Masayuki YAMAMOTO, Masaki HASHIZUME

  • pandangan teks lengkap

    0

  • Petikan Ini

Ringkasan:

Dalam kertas ini, kaedah pesanan rantai imbasan untuk ujian imbasan bantuan BIST untuk mengurangkan data ujian dan masa permohonan ujian dicadangkan. Dalam kerja ini, kami menggunakan LFSR ringkas tanpa pengalih fasa sebagai PRPG dan mengkonfigurasi rantai imbasan menggunakan set selipar yang serasi dengan mempertimbangkan korelasi antara selipar dalam LFSR. Kaedah ini boleh mengurangkan bilangan kod penyongsang yang diperlukan untuk menyongsangkan bit dalam corak PRPG yang bercanggah dengan corak ATPG. Keputusan eksperimen untuk beberapa litar penanda aras ditunjukkan untuk membentangkan kebolehlaksanaan kaedah ujian kami.

Jawatankuasa
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E93-D No.1 pp.10-16
Tarikh penerbitan
2010/01/01
Diumumkan
ISSN dalam talian
1745-1361
DOI
10.1587/transinf.E93.D.10
Jenis Manuskrip
Special Section PAPER (Special Section on Test, Diagnosis and Verification of SOCs)
kategori

Pengarang

Kata kunci

Contents [show]